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11.09.2020

Testen während des Ladevorgangs

Ladeschnittstellen testen

Keysight hat zwei neue Test- und Zertifizierungslösungen für Ladeschnittstellen innerhalb eines Elektrofahrzeugs oder der Ladeinfrastruktur erweitert. Die erste wird für das Laden mit hoher Leistung eingesetzt, die zweite ist eine EMV-optimierte Version, die während des AC- oder DC-Ladens verwendet wird.

Zwei neue Lösungen zum Testen während des Ladevorgangs, einschließlich Hochleistungsladen und EMV-Optimierung. © Keysight Technologies

Derzeit passen die Fachleute ihren Testansatz noch manuell an die jeweilige Lade-Norm an. Die Lösungen von Keysight ermöglichen es nun, Tests zu automatisieren, um die Produktivität zu verbessern und gleichzeitig Testzeit und -kosten zu reduzieren. Durch das spezielle EMV-geschirmte Design und die integrierten, rauscharmen Komponenten wird die Emission auf ein Minimum reduziert. Dies ermöglicht EMV-Tests unter realen Ladebedingungen ohne Störungen durch die Testumgebung.

Darüber hinaus ist das Scienlab EMC CDS von Keysight, das in einer Absorberkammer für leitungsgebundene oder abgestrahlte Immunitäts- und Emissionstests eingesetzt wird, immun gegen externe elektromagnetische Felder und kann bei Immunitätstests in der Nähe des Prüflings platziert werden. Dies hilft, präzise und unverzerrte Messungen zu gewährleisten.

www.keysight.com

Unternehmensinformation

Keysight Technologies Deutschland GmbH

Herrenberger Str. 130
DE 71034 Böblingen
Tel.: 07031 464-6333
Fax: 07031 464-6336

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