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20.05.2019

Leistungsanalysator IGBT-, SiC und GaN-Bauelemente

Messen und Testen

Der dynamische Leistungsanalysator mit Doppelpulstester PD1500A von Keysight Technologies ermöglicht zuverlässige und wiederholbare Messungen von Wide-Bandgab- Halbleitern (WBG) wie Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN). Gleichzeitig wird auch die Sicherheit der Messhardware und der Test-Fachleute gewährleistet.

© Keysight

© Keysight

Der PD1500A ist modular aufgebaut, so dass viele Bauteiltypen getestet und verschiedene Charakterisierungstests bei verschiedenen Leistungen durchgeführt werden können. Das vorgestellte erste System ermöglicht eine vollständige Charakterisierung mit Doppelpulstests und Parameterextraktion für Si- und SiC-Leistungshalbleiter mit Nennwerten bis zu 1,2 kV und 200 A.

Mit zukünftigen weiteren Modulen des PD1500A können Tests an Bauteilen durchgeführt werden, die mehr Strom benötigen, wie beispielsweise GaN- und Leistungsmodule. Dabei wird eine sichere Testumgebung gewährleistet. Dokumentation, Unterstützung und Wartung einer Standard-Testlösung sowie die Wartung mehrerer Testlösungen an einem oder mehreren Standorten sind möglich.

Anwendungen in der Elektromobilität

Das Wachstum des Marktes für Elektrofahrzeuge (Electric Vehicle, EV) führt zu einer Nachfrage nach kleinen, leistungsstarken und effizienten Stromversorgungssystemen. Während sich die Industrie für kritische Anwendungen wie erneuerbare Energien und EVs den Wide-Bandgab-Halbleitern zuwendet, zögern laut Keysight viele Entwickler von Spannungswandlern, die neue Technologie zu übernehmen. Dies ist auf potenzielle Zuverlässigkeits- und Wiederholbarkeitsrisiken bei der Charakterisierung einer neuen Generation von Halbleitern zurückzuführen, darunter IGBTs (Insulated-Gate Bipolar Transistor), SiC und GaN.

Die vollständige Charakterisierung eines SiC- oder GaN-Bauelements erfordert statische und dynamische Messungen. Die Power Device Analyzer B1505A und B1506A von Keysight sind für statische Messungen geeignet. Mit dem PD1500A bietet Keysight nun auch die Flexibilität, eine Vielzahl von dynamischen Messungen durchzuführen. Diese Flexibilität benötigen Entwickler, um kontinuierlich an ihren Bauteilen zu arbeiten, während sich die Standards des Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC, eine Organisation verantwortlich für die Standardisierung in Halbleiterhandel und -technik) für WBG-Bauteile weiterentwickeln.

weitere Informationen

Unternehmensinformation

Keysight Technologies Deutschland GmbH

Herrenberger Str. 130
DE 71034 Böblingen
Tel.: 07031 464-6333
Fax: 07031 464-6336

Internet:www.keysight.com
E-Mail: contactcenter_germany <AT> keysight.com



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