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27.10.2020

EMV-Messungen an ICs

Leitungsgebundene IC-Probes

Langer EMV-Technik hat Anfang 2020 eine neue IC-Probegeneration entwickelt, welche mit einem flexiblen Federkontakt als Spitze und visuell überprüfbarer Kontakterkennung ausgestattet ist. Dies ermöglicht nicht nur eine deutlich präzisere Kontaktierung mit dem IC-Pin, sondern ebenfalls Messungen von ICs in BGA-Gehäusen und einen unkomplizierten und schnellen Austausch der Spitzen.

© Langer EMV-Technik

Mit den leitungsgebundenen IC-Probes von Langer EMV-Technik lassen sich normative Bewertungen der Störaussendung (IEC 61967) und Störfestigkeit (IEC 62132; IEC 62215) oder auch entwicklungsbegleitende Untersuchungen durchführen. Dazu gehören u.a. die 1/150 Ω leitungsgeführte Aussendung, DPI (direct power injection) sowie die EFT-Pulseinkopplung.

Die hohe Messdynamik und Genauigkeit bei der Kontaktierung der neuen IC-Probes erlaubt die automatische Ausmessung komplexer ICs mit dem IC-Testautomat ICT1. Der ICT1 ist ein Positioniersystem für IC-Messgeräte der Langer EMV-Technik GmbH, um automatisierte EMV-Tests an ICs durchzuführen.
Wird die IC-Probe per Hand geführt lässt sich die Kontakterkennung über einen Taster aktivieren und mittels der integrierten LED visuell überprüfen. Je nach Anwendung und Messaufgabe kann es erforderlich sein, unterschiedliche Kontaktspitzen mit beispielsweise unterschiedlicher Länge einzusetzen. Dies ist auch problemlos möglich, da die Federkontakte über eine Verschraubung leicht wechselbar sind.

www.langer-emv.de

Unternehmensinformation

Langer EMV-Technik GmbH

Nöthnitzer Hang 31
DE 01728 Bannewitz
Tel.: 0351 4300930
Fax: 0351 43009322

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