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   HANSER automotive - electronics + systemsHEFTARCHIVJAHRGANG 2008HEFT 09/2008



INHALTSVERZEICHNIS DER PRINTAUSGABE 09/2008

01. 10. 08 Grundlagenforschung bei MAN Nutzfahrzeuge

Der 1-Liter-Lastwagen

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01. 10. 08 Entwicklungstrends in der Nfz-Vernetzung

Erfolgsfakttoren bei der Elektronikentwicklung

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01. 10. 08 S-Test vereinfacht SW-Checks

Software-Test auf Automatik geschaltet

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01. 10. 08 Professionelle Umgebung für die Entwicklung von Steuergerätesoftware

ASCET V6.0

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01. 10. 08 HiL-Simulator für Diesel- und Ottomotoren

Einer für Alle(s)

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01. 10. 08 Praxisbericht Automatische Codegenerierung

Besucher aus der Zukunft

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01. 10. 08 End-of-Line Test in der Massenfertigung von Steuergeräten

Hohe Stückzahlen von Prüflingen stellen die anspruchsvollste Anforderung an automatisierte Funktionstestsysteme in der Fertigung automobilelektronischer Baugruppen dar. Der nachfolgende Beitrag beschreibt das Konzept eines Hochleistungs-EOL-Testers (EOL = End Of Line) mit vernetzten Prüfzellen, der ...

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Beiträge 16 bis 22 von 22

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BASF und Philips: OLED-Beleuchtung für durchsichtiges Autodach

PA Consulting Group: Tobias Reich ist Mitglied der Geschäftsleitung

elektro:mobilia 2012: 100 Gutscheine für Eintrittskarten

Infineon ist Weltmarktführer bei Sicherheitschips für die NFC-Technologie

MBtech Trend Monitor 2012: Autozulieferer rücken Vertrieb ins Zentrum

ZMDI und edacentrum: Mit SyEnA werden Sicherheitssysteme im Automobil kostengünstiger

Faurecia und PLDS kooperieren beim kabellosen Laden elektronischer Geräte im Fahrzeuginneren

PCIM und SMT Hybrid Packaging: Themenpark "Power Electronics and Manufacturing for E-Mobility"

Etas und Kvaser gehen Partnerschaft ein

Tieto : Multimediasystem mit Android und Multi-Touch

Roaming-Plattform soll Zukunft der Elektromobilität kundenfreundlicher machen

Berner & Mattner: Dr. Klaus Eder neuer CEO

Göpel eröffnet Niederlassung in Indien

carhs.training: SafetyCompanion 2012

VDA: 14. Technischer Kongress


PRODUKTNEWS

embedded world 2012: CoSynth zeigt CoSynth Synthesizer

Manner: Rotierende Drehmomentmessflansche mit 24 Bit Auflösung

Claas setzt auf Antennen von HCC

Maxim: Winziger Class-D-Audioverstärker

Endrich Bauelemente: SunCon Hybrid-Kondensatoren in SMD Ausführung

Berner & Mattner: CTE XL Professionals Version 2.7

Omron: Sehr kleiner gekapselter Schnappschalter

Johnson Controls entwickelt 3D-Display-Technologie weiter

Hitex unterstützt neue XMC4000-Familie von Infineon

Embedded World 2012: Silicon Labs zeigt USB-, Wireless- und stromsparende Mikrocontroller

Advantest: Analyse-Dienstleistungen für Diesel-Abgasnachbehandlungssysteme

Comemso: Batteriezellen-Simulator mit integrierter Leckstrommessung

Telemeter: Labornetzgeräte PL-Serie von TTi

Renesas: 32-Bit MCU mit integrierter Resolver-Sensorschnittstelle

TI: Systemlösung für ein vernetztes Automotive-Infotainment


INTERVIEW

Günther Elsner, NEC: NEC V850 - die vierte Generation

Stephan Wolfsried, Mercedes-Benz: „Prosa ist out!“

Rahman Jamal, National Instruments: „Professionelle Messtechnik ist mehr als Laptop und USB!“

Interview: Messsoftware der nächsten Generation


FIRMENSEMINARE

08.05.2012  | Blomberg
Phoenix Testlab: Neue EMV-Richtlinie und rechtliche Verantwortung
08.05.2012 bis 09.05.2012  | Unterleinleiter
EMCC DR. RASEK: HIRF - Hochenergetische Strahlungseinwirkungen auf Flugzeuge (Dr. Guido Rasek)
09.05.2012  | Duisburg
National Instruments: TestStand Hands-On
10.05.2012 bis 11.05.2012  | Unterleinleiter
EMCC DR. RASEK: LEMP - Elektromagnetische Blitzeinwirkungen auf Flugzeuge (Dr. Martin Gabrišák)
15.05.2012  | Herrenberg
Phoenix Testlab: EMV-Prüfungen an KFZ-Komponenten

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